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更新日期：2024-03-20
簡要描述：
日本filmetrics臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)F3-CSF3-CS是測量小樣品的測量系統(tǒng)。與測量臺(tái)集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。
| 類型 | 數(shù)字式 | 測量范圍 | 1 |
|---|
日本filmetrics臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS
F3-CS是測量小樣品的測量系統(tǒng)。與測量臺(tái)集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。
只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。
緊湊的尺寸
輕松連接，僅 USB 連接
光學(xué)常數(shù)分析（折射率/消光系數(shù)）
| 光學(xué)鍍膜 | 硬涂層、防滴膜、聚對二甲苯等 |
|---|---|
| 平板 | 有機(jī)膜等 |
日本filmetrics臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS
| 模型 | F3-CS-UV | F3-CS | F3-CS-近紅外 |
|---|---|---|---|
| 測量波長范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm |
膜厚測量范圍 | 3nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 250μm |
| 準(zhǔn)確性* | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | |
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | |
*取決于樣品和測量條件
