ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

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更新日期：2024-05-21

簡要描述：

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	類型	無損傷
產(chǎn)地	進(jìn)口

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。通過本設(shè)備可以實現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

產(chǎn)品特征

產(chǎn)品特長	高速測量（6" 襯底　90秒） ?可以最快速度簡捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。縱向結(jié)晶評價 ?因為是透視型結(jié)晶評價裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測試效果 ?可以取得同等測試效果，實現(xiàn)高速低成本。價格競爭力 ?在晶片測量裝置中，屬于性價比好的一款系統(tǒng)。
可測量材料	SiC單晶襯底、及SiC外延襯底 GaN單晶襯底、及GaN外延襯底 AlN單晶襯底、及AlN外延襯底可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。
測試效果不佳材料	?無可視光透視性材料：Si、GaAs等 ?無雙折射效果材料：藍(lán)寶石、Ga2O3 等