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日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測

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更新日期:2024-03-17

簡要描述:

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100
超高電阻范圍:以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
平面多點測量功能

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100

 

產品特點

  • 超高電阻范圍:以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
  • 平面多點測量功能
  • 2D / 3D映射圖像顯示
  • Windows 7軟件
  • 測量數據可以CSV文件格式輸出
  • 由于是非接觸型,因此可以不受接觸電阻的影響進行測量。

測量規(guī)格

測量目標

*通常,可以測量本設備測量范圍內的任何樣品。請聯(lián)xi我們。

?超高電阻薄膜樣品(a-Si,IGZO等)

?半導體材料接近絕緣

?導電橡膠

這樣

測量尺寸

尺寸:z大300 x 400毫米

厚度:z大2毫米

*我們可以自定義您的要求,例如尺寸支持。請聯(lián)xi我們。

測量范圍

10E + 9?10E + 15Ω/□

 

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