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更新日期:2024-03-17
簡要描述:
日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100超高電阻范圍:以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□平面多點測量功能
日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100
測量目標
*通常,可以測量本設備測量范圍內的任何樣品。請聯(lián)xi我們。
?超高電阻薄膜樣品(a-Si,IGZO等)
?半導體材料接近絕緣
?導電橡膠
這樣
測量尺寸
尺寸:z大300 x 400毫米
厚度:z大2毫米
*我們可以自定義您的要求,例如尺寸支持。請聯(lián)xi我們。
測量范圍
10E + 9?10E + 15Ω/□