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更新日期:2024-03-17
簡(jiǎn)要描述:
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測(cè)量儀Napson 4探針測(cè)量系統(tǒng)使用了盒式磁帶(*為Jandel的原始類型)。我們還為其他公司的設(shè)備提供6針連接器類型和小模塊類型。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測(cè)量儀
<探頭頭類型>
Napson 4探針測(cè)量系統(tǒng)使用了盒式磁帶(*為Jandel的原始類型)。我們還為其他公司的設(shè)備提供6針連接器類型和小模塊類型。
Napson的4探針法電阻/薄層電阻測(cè)量儀器使用由Jandel(UK)制造的高精度4探針探頭。
Jandel探頭z適合用于測(cè)量需要高精度的半導(dǎo)體和金屬薄膜的電阻和薄層電阻,并且已經(jīng)經(jīng)過了多年的高度評(píng)估。
*由于使用了V型彈簧,因此觸針壓力始終穩(wěn)定。
*上下均使用珠寶導(dǎo)板來固定探頭,因此具有出色的針間精度和穩(wěn)定性。
*軸和刀頭是一體的,因此對(duì)刀頭的損壞很小,并且具有出色的耐用性。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測(cè)量儀
根據(jù)材料,表面條件和待測(cè)樣品的形狀選擇類型。
<推薦參考示例>
目標(biāo)樣品 | 探頭 (材料/尖duan半徑) | 測(cè)針壓力/書本 |
硅錠塊 | TC-40u | 200克 |
硅片 | TC-40u | 200克 |
蝦結(jié)構(gòu)層 | TC-150u | 100克 |
薄外延層 | TC-150u,500u | 50克 |
薄層如淺擴(kuò)散 | OS-200u,500u | 50克 |
擴(kuò)散層 | OS-200u,TC-150u | 100克 |
離子黑斑 | TC-150u | 50克,100克 |
金屬薄膜 | TC-150u,500u | 25g,50g,100g |
ITO膜 | TC-150u,500u | 25g,50g,100g |
*可以使用上述以外的樣品進(jìn)行測(cè)量(導(dǎo)電)。
*也可以使用其他類型。
*也可根據(jù)要求提供特殊規(guī)格。
(關(guān)于產(chǎn)品編號(hào))
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-針
材料:TC;碳化鎢(OS; alloy合金)-
針尖半徑:40μm(可能在25μm至500μm之間)-
針壓力(g /書):200克(可能10克至250克)-
針間距:1.00毫米(可能0.5毫米至1.59毫米)-針
排列:線性(標(biāo)準(zhǔn))(可能是正方形)